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FE-300

FE-300

    メーカー大塚電子
    販売元大塚電子
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    製品の特長 - 膜厚モニター FE-300

    コンパクト・低価格でありながらも非接触・非破壊で高精度測定を実現

    薄膜から厚膜の幅広い膜厚に対応

    非線形最小二乗法、最適化法、PV法、FFT解析法などによって幅広い種類の膜厚測定が可能

    非線形最小二乗法の膜厚解析アルゴリズムにより、光学定数解析(n:屈折率、k:消衰計数)が可能

    条件設定や測定操作が簡単、手軽に膜厚測定が可能

    簡単、高精度な光学式膜厚計 - 膜厚モニター FE-300

    高精度な光干渉法による膜厚測定を簡単操作で実現した小型で低価格な膜厚計です。

    必要な機器を本体部に収納したオールインワンタイプの筺体を採用し、安定したデータの取得を実現しました。

    低価格でありながらも絶対反射率の取得により、光学定数の解析も可能です。

    仕様 - 膜厚モニター FE-300

    型式FE-300
    サイズ280(W)×570(D)×350(H)mm
    質量24kg
    電源AC100V±10% 300VA
    その他タイプ : 薄膜測定タイプ 、標準測定タイプ
    測定波長範囲 : 300nm~800nm /450nm~780nm
    測定膜厚範囲(SiO2換算): 3nm~35μm /10nm~35μm
    スポット径: φ3mm / φ1mm
    光源 : 重水素、ハロゲン
    サンプルサイズ : φ200mm(厚さ5mm)
    測定時間 : 0.1s~10s以内
    メーカー希望小売価格(税別)お問い合わせ下さい
    表示価格は代表的な仕様のものです。詳細はお問い合わせください。

    注意事項

    • 価格及び、サービスの仕様・内容などにつきまして、予告なしに変更されることがあります。
    • 表示している参考価格に消費税等は含まれておりません。