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製品の特長 - リタデーション測定装置 RETS-100nx
独自の分光器だからできる高精度測定
多波長測定による高精度を実現
幅広い測定範囲（リタデーション範囲：0～60000nm）を実現
リタデーションの波長分散測定が可能
非破壊で様々なフィルムの積層状態を測定
サンプルの軸角度補正機能により再現性良く測定可能
かんたんソフトウェアで測定時間と処理時間が大幅に短縮
独自開発の分光器を採用したリタデーション測定装置 - リタデーション測定装置 RETS-100nx
OLED用偏光板、積層位相差フィルム、IPS液晶位相差フィルム付偏光板など、あらゆるフィルムに対応したリタデーション測定装置です。
超高リタデーション60,000nmに対応の高速・高精度測定を実現。
フィルムの積層状態を“剥がさず、非破壊”で測定可能です。
さらに、操作面でもかんたんソフトウェアや、サンプルの置き直しによるズレに対応した補正機能を搭載し、手軽に高精度な測定ができます。
仕様 - リタデーション測定装置 RETS-100nx
| 型式 | RETS-100nx |
|---|---|
| サイズ | 480(W)×520(D)×765(H)mm |
| 質量 | 60kg |
| 電源 | AC100V±10% 1.5kVA |
| その他 | 測定項目（フィルム、光学材料）: リタデーション（波長分散）、遅相軸、Rth、3次元屈折率 測定項目（偏光板）: 吸収軸、偏光度、消光比、各種色度、各種透過率 測定項目（液晶セル）: セルギャップ、プレチルト角ツイスト角、配光角 測定波長範囲: 400 ～ 800nm （他選択可能） 検出器: マルチチャンネル分光器 オプション: 超高リタデーション測定・多層測定・軸角度補正機能 ・自動XYステージ ・自動傾斜回転ステージ |
| メーカー希望小売価格(税別) | お問い合わせ下さい |
表示価格は代表的な仕様のものです。詳細はお問い合わせください。
注意事項
- 価格及び、サービスの仕様・内容などにつきまして、予告なしに変更されることがあります。
- 表示している参考価格に消費税等は含まれておりません。