
次世代型マルチFT-IR分光計

INVENIO X+タッチパネル

多彩なアクセサリーをご用意しています
メーカー | Bruker Optics |
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販売元 | ブルカージャパン |
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製品の特長
次世代型FT-IR
卓越した INTEGRAL™ 干渉計
一体型タッチパネル
最高波数分解は 0.085 cm-1 を超え、ほぼすべてのアプリケーションに対応可能
TGA 熱重量分析システムを組み合わせることにより、化合物の熱分解過程のリアルタイム解析が可能
製品の概要
干渉計はアライメントフリーのRock Solid干渉計を採用。
測定範囲は遠赤外から可視領域まで拡張可能。(28000~15cm-1)
ビームスプリッタは3ポジションまで搭載でき、ソフトウエアで変更可能。
また室温型検出器は一つの検出器に5ヶの素子を搭載可能
タッチパネルPCでの操作も可能
仕様
型式 | INVENIO-X |
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サイズ | 680×760×320 mm |
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質量 | 72kg |
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電源 | 100v 1.0A |
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その他 | 該当項目: なし
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メーカー希望小売価格(税別) | 7,620,000円〜 |
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