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次世代型マルチFT-IR分光計

次世代型マルチFT-IR分光計

  • 次世代型マルチFT-IR分光計
  • INVENIO X+タッチパネル
  • 多彩なアクセサリーをご用意しています
メーカーBruker Optics
販売元ブルカージャパン
メーカーサイト製品ページ
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製品の特長

次世代型FT-IR

卓越した INTEGRAL™ 干渉計

一体型タッチパネル

最高波数分解は 0.085 cm-1 を超え、ほぼすべてのアプリケーションに対応可能

TGA 熱重量分析システムを組み合わせることにより、化合物の熱分解過程のリアルタイム解析が可能

製品の概要

干渉計はアライメントフリーのRock Solid干渉計を採用。

測定範囲は遠赤外から可視領域まで拡張可能。(28000~15cm-1)

ビームスプリッタは3ポジションまで搭載でき、ソフトウエアで変更可能。

また室温型検出器は一つの検出器に5ヶの素子を搭載可能

タッチパネルPCでの操作も可能

紹介ムービー

仕様

型式INVENIO-X
サイズ680×760×320 mm
質量72kg
電源100v 1.0A
その他該当項目: なし
メーカー希望小売価格(税別)7,620,000円〜
表示価格は代表的な仕様のものです。詳細はお問い合わせください。

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