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INVENIO-X
P1BKO1000002-1
次世代型マルチFT-IR分光計
| メーカー | Bruker Optics |
|---|---|
| 販売元 | ブルカージャパン |
| メーカーサイト | 製品ページ |
| カタログダウンロード | 製品カタログ |
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製品の特長 - INVENIO-X
次世代型FT-IR
卓越した INTEGRAL™ 干渉計
一体型タッチパネル
最高波数分解は 0.085 cm-1 を超え、ほぼすべてのアプリケーションに対応可能
TGA 熱重量分析システムを組み合わせることにより、化合物の熱分解過程のリアルタイム解析が可能
製品の概要 - INVENIO-X
干渉計はアライメントフリーのRock Solid干渉計を採用。
測定範囲は遠赤外から可視領域まで拡張可能。（28000~15cm-1）
ビームスプリッタは3ポジションまで搭載でき、ソフトウエアで変更可能。
また室温型検出器は一つの検出器に5ヶの素子を搭載可能
タッチパネルPCでの操作も可能
紹介ムービー - INVENIO-X
仕様 - INVENIO-X
| 型式 | INVENIO-X |
|---|---|
| サイズ | 680×760×320 mm |
| 質量 | 72kg |
| 電源 | 100v 1.0A |
| その他 | 該当項目: なし |
| メーカー希望小売価格(税別) | 7,620,000円〜 |
表示価格は代表的な仕様のものです。詳細はお問い合わせください。
注意事項
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