製品一覧

ゼータ電位・粒径・分子量測定システム　ELSZneo

大塚電子

• 分析装置・構造解析装置
• その他

キャピラリ電気泳動システム　Agilent7100

大塚電子

• 電気泳動・ブロッティング装置
• キャピラリー電気泳動装置

ダイナミック光散乱光度計　DLS-8000

大塚電子

• 分析装置・構造解析装置
• その他

マルチチャンネル分光器MCPD-6800

大塚電子

• 光計測装置
• 分光光度計

マルチチャンネル分光器MCPD-9800

大塚電子

• 光計測装置
• 分光光度計

ラインスキャン膜厚計

大塚電子

• 分析装置・構造解析装置
• その他

リタデーション測定装置　RETS-100nx

大塚電子

• 光計測装置
• 分光光度計

• 分析装置・構造解析装置
• その他

ロードポート対応膜厚測定システム　GS-300

大塚電子

• 分析装置・構造解析装置
• その他

分光干渉式ウェーハ厚み計　SF-3

大塚電子

• 分析装置・構造解析装置
• その他

多検体ナノ粒子径測定システム　nanoSAQLA

大塚電子

• 分析装置・構造解析装置
• その他

膜厚モニター　FE-300

大塚電子

• 分析装置・構造解析装置
• その他

量子効率測定システム　QE-2100

大塚電子

• 分析装置・構造解析装置
• その他

顕微分光膜厚計　OPTMseries

大塚電子

• 分析装置・構造解析装置
• その他

高分子相構造解析システム　PP-1000

大塚電子

• 分析装置・構造解析装置
• その他

ゼータ電位・粒径・測定システム　ELSZneoSE

大塚電子

• 分析装置・構造解析装置
• その他

光波動場三次元顕微鏡

大塚電子

• 顕微鏡実験機器
• その他